[PDF]
http://dx.doi.org/10.3952/lithjphys.48106
Open access article / Atviros prieigos straipsnis
Lith. J. Phys. 48, 79–84 (2008)
CHARACTERIZATION OF SiC CRYSTALS
BY OPTICAL AND ELECTRICAL MEANS
K. Neimontas, R. Vasiliauskas, A. Mekys, J. Storasta, and K.
Jarašiūnas
Institute of Materials Science and Applied Research, Vilnius
University, Saulėtekio 9, LT-10222 Vilnius, Lithuania
E-mail: kestutis.jarasiunas@ff.vu.lt
Received 22 October 2007; revised
15 November 2007; accepted 21 November 2007
Measurements of carrier transport
have been carried out in different SiC polytypes by using two
complementary techniques: a picosecond four-wave mixing and
magnetoresistance. Both techniques confirmed the mechanism of
phonon scattering in T = 100–300 K range, as well as
higher carrier mobility in n-type 4H epitaxial layers with
respect to 3C-SiC. The optical technique revealed a decrease of
the bipolar mobility in 3C-SiC at T < 100 K and its
variation with photoexcited carrier density. A lattice heating was
observed in free standing 3C- and 4H-SiC due to strong impact of
nonradiative recombination, and this effect precluded optical
studies of carrier dynamics at low temperatures.
Keywords: silicon carbide, carrier
transport, lattice heating, transient gratings
PACS: 72.20.Jv, 78.47.+p
SiC KRISTALŲ TYRIMAI OPTINIAIS
IR ELEKTRINIAIS METODAIS
K. Neimontas, R. Vasiliauskas, A. Mekys, J. Storasta, K.
Jarašiūnas
Vilniaus universitetas, Vilnius, Lietuva
Keturbangio maišymo bei Holo efekto metodikomis
atlikti temperatūriniai nepusiausvirųjų krūvininkų dinamikos
matavimai n tipo 4H-SiC ir 3C-SiC epitaksiniuose
sluoksniuose bei 3C-SiC kvazitūriniame kristale. Išmatuotos
bipolinio krūvininkų judrio (difuzijos koeficiento) priklausomybės
100–300 K temperatūros intervale. Iš abiem metodikomis išmatuotų
priklausomybių 4H-SiC epitaksiniuose sluoksniuose (µ ~ T–3/2)
nustatyta, kad pagrindinis krūvininkų sklaidos mechanizmas yra
sklaida fononais visame matuotos temperatūros intervale (100–300
K). Rastos didesnės difuzijos koeficiento vertės cheminiu garų
nusodinimo metodu užaugintame 4H-SiC epitaksiniame sluoksnyje,
lyginant su sublimacijos būdu užaugintu bandiniu. Šis skirtumas
paaiškinamas skirtingu defektų tankiu abiejuose bandiniuose. Iš
išmatuotų krūvininkų judrio temperatūrinių priklausomybių 3C-SiC
bandiniuose padaryta išvada, kad sklaida jonizuotomis priemaišomis
riboja judrio vertę, kai T < 100 K, o esant T
> 100 K vyrauja sklaida fononais. Judrio vertės mažėjimas
didinant žadinančios šviesos energijos tankį (nepusiausvirųjų
krūvininkų tankį) kvazitūriniame kristale aiškinamas priemaišų
perelektrinimu esant dideliems krūvininkų tankiams. Didesnės
judrio vertės (visuose matuotos temperatūros ir žadinančios
šviesos energijos tankio intervaluose) kvazitūriniame 3C-SiC
lyginant su epitaksiniu sluoksniu rodo geresnes jo elektrines
savybes. Nustatyta, kad esant žemai temperatūrai (T <
100 K 4H-SiC atveju ir T < 50 K 3C-SiC atveju)
kristalinės gardelės kaitinimas dėl nespindulinės laisvųjų
krūvininkų rekombinacijos ir energijos perviršio, susidarančio
žadinant kristalą šviesos kvantu hν > Eg,
sukelia temperatūrinę lūžio rodiklio moduliaciją, kuri turi didelę
įtaką difrakcijos efektyvumo kinetikoms, ir dėl to nebegalima
tiesiogiai įvertinti nepusiausvirųjų krūvininkų judrio šiuose
kristaluose. Reikia pažymėti, kad epitaksiniame 3C-SiC sluoksnyje
šis efektas nebuvo stebimas, ir tai rodo mažesnį nespindulinės
rekombinacijos kanalų kiekį, lyginant su kvazitūriniu 3C-SiC
kristalu.
References / Nuorodos
[1] P. Grivickas, J. Linnros, and V. Grivickas, Mater. Sci. Forum 338–342,
671–674 (2000),
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.338-342.671
[2] K. Jarašiūnas, in: UV Solid-State Light Emitters and
Detectors, NATO Science Series II: Mathematics, Physics and
Chemistry, Vol. 144, eds. M.S. Schur and A. Žukauskas (Kluwer
Academic Publishers, 2004) pp. 93–109,
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-2103-9_7
[3] K. Neimontas, R. Aleksiejūnas, M. Sūdžius, K. Jarašiūnas, and
J.P. Bergman, Mater. Sci. Forum 483–486, 413–416 (2005),
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.483-485.413
[4] M. Soueidan and G. Ferro, Adv. Funct. Mater. 16, 975–978 (2006),
http://dx.doi.org/10.1002/adfm.200500597
[5] P. Blood and J.W. Orton, The Electrical Characterization of
Semiconductors: Majority Carriers and Electron States (Philips
Research Laboratories, Redhill, Surrey RH15HA, UK, 1992),
https://www.amazon.com/Electrical-Characterization-Semiconductors-Majority-Techniques/dp/0125286279
[6] I.M. Abdel-Motaleb and R.Y. Korotkov, J. Appl. Phys. 97,
093715-1–6 (2005),
http://dx.doi.org/10.1063/1.1891278
[7] S. Juillaguett, C. Balloud, T. Robert, M. Zelinski, and J.
Camassel, in: Abstracts of International Workshop on 3C-SiC
Heteroepitaxy, Grenoble, June 2007, p. 35
[8] H. Nagasawa, K. Yagi, T. Kawahara, N. Hatta, G. Pensl, W.J.
Choyke, T. Yamada, K.M. Itoh, and A. Shoner, in: Silicon
Carbide: Recent Major Advances, eds. W.J. Choyke, H.
Matsunami, and G. Pensl (Springer, Berlin, 2004) pp. 207–228,
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-18870-1_9
[9] J. Singh, Electronic and Optoelectronic Properties of
Semiconductor Structures (Cambridge University Press,
Cambridge, 2003),
http://dx.doi.org/10.1017/CBO9780511805745
[10] T.T. Mnatsakanov, M.E. Levinshtein, L.I. Pomortseva, and S.N.
Yurkov, Semicond. Sci. Technol. 17, 974–977 (2002),
http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/17/9/313
[11] T.T. Mnatsakanov, L.I. Pomortseva, and S.N. Yurkov, Semicond. 35(4),
394–397 (2001),
http://dx.doi.org/10.1134/1.1365181
[12] H. Matsuura, M. Komeda, S. Kagamihara, H. Iwata, R. Ishihara,
T. Hatakeyama, T. Watanabe, K. Kojima, T. Shinohe, and K. Arai, J.
Appl. Phys. 96, 2708–2715 (2004),
http://dx.doi.org/10.1063/1.1775298
[13] W.J. Shaffer, H.S. Kong, G.H. Negley, and J.W. Palmour, Inst.
Phys. Conf. Ser. 137, 155–158 (1994)
[14] K. Neimontas, T. Malinauskas, R. Aleksiejūnas, R. Yakimova, and
K. Jarašiūnas, Lithuanian J. Phys. 46, 199–204 (2006),
http://dx.doi.org/10.3952/lithjphys.46205
[15] J. Vaitkus, K. Jarašiūnas, E. Gaubas, L. Jonikas, R. Pranaitis,
and L. Subačius, IEEE J. Quantum Electron. 22, 1298–1306
(1986),
http://dx.doi.org/10.1109/JQE.1986.1073129