Structural, electrical, and
optical properties of nitrogen doped zinc oxide (ZnO:N) thin films
deposited by direct current magnetron sputtering are analysed in
this work. Nitrogen doping allows creation of p-type
semiconducting ZnO thin films for their most important application
as light emitting diodes. The scanning electron microscope images
of sample cross-section show dense structure with columnar growth
features. The X-ray diffraction patterns indicate semi-amorphous
structure, explaining very low photoluminescence intensity.
Optical transmittance measurements reveal significant changes in
optical properties upon different amount of nitrogen doping. The
resistance measurements in 30–90
C
temperature range of ZnO:N thin films demonstrate similar to
semiconductor behaviour and show resistance change up to 50%.
Cinko oksidas (ZnO) laikomas viena iš
perspektyvių medžiagų, siekiant sukurti
p–
n
vienalytės sandūros šviestukus, dėl plataus (3,37 eV) draustinio
energijų tarpo, santykinai pigių ZnO padėklų prieinamumo ir
epitaksijos žemoje temperatūroje galimybės. Nors
n tipo
priemaišų įterpimas į ZnO vyksta gana lengvai, iki šiol nerasta
patikimo būdo įterpti
p tipo priemaišas. Perspektyviausiu
akceptoriaus kandidatu beveik vieningai pripažįstamas azotas,
kadangi dėl labai panašaus joninio spindulio gali ZnO gardelėje
lengvai pakeisti deguonį.
Cinko oksido su azoto priemaiša (ZnO:N) sintezei atlikti gali būti
naudojama daugelis metodikų. Dažniausiai literatūroje yra
sutinkami metalinis-organinis cheminis nusodinimas iš garų fazės,
reaktyvinis garinimas impulsiniu lazeriu, radiodažnio arba
nuolatinės srovės magnetroninis nusodinimas. Skirtingų autorių
gautų ZnO:N plėvelių savybės gana smarkiai skiriasi, galbūt dėl
skirtingų formavimo technologijų bei naudojamų padėklų įvairovės.
Patikimos informacijos stoka skatina atlikti papildomus ZnO:N
sintezės bei savybių tyrimus.
Šiame darbe ZnO:N plėvelių nusodinimui buvo pasirinktas
reaktyvusis nuolatinės srovės magnetroninis metodas, kadangi jis
yra gana lengvai įgyvendinamas, pasižymi gana dideliais nusodinimo
greičiais ir leidžia plačiame intervale keisti junginio
stechiometriją. Pagrindinis tokio metodo panaudojimo sunkumas –
sudėtinga reaktyviųjų dujų dalinio slėgio ir tuo pačiu sudaromo
junginio stechiometrijos priklausomybė nuo įvairių technologinių
parametrų.
Nusodintų plėvelių morfologija buvo ištirta rastriniu elektroniniu
mikroskopu FEI Quanta 200F. Kristalinei struktūrai nustatyti buvo
panaudotas Rentgeno difraktometras Bruker AXS D8 Advance su
monochromatine Cu K
spinduliuote. Elektrinės savybės išmatuotos dviejų zondų metodu.
Optinis plėvelių skaidris buvo išmatuotas UV-VIS spektrofotometru
Spectronic GENESYS 8. Fotoliuminsecencijos tyrimai buvo atlikti
kambario ir 8 K temperatūroje, žadinant nanosekundinio YAG:Nd
lazerio 4-os harmonikos spinduliuote.
Tyrimų rezultatai rodo įvykusį azoto įmaišymą į ZnO. Rentgeno
spindulių difrakcijos analizė parodė prastos kokybės pusiau
amorfinę kristalinę ZnO:N plėvelių struktūrą. Plačios Rentgeno
difrakcijos spektrų linijos priskirtinos heksagoninės struktūros
ZnO, o bandiniuose su dideliu N
2 kiekiu Zn
3N
2
priskiriamų smailių neaptikta. Optinio skaidrumo matavimai ir
draustinio energijos tarpo nustatymas patvirtino draustinio tarpo
mažėjimą nuo 3,12 iki 1,56 eV, mažinant deguonies dalinį slėgį
auginimo metu nuo 2,2·10
−2 iki 1,1·10
−2 Pa.
Daug N
2 turinčios plėvelės yra mažai skaidrios regimai
šviesai, turi mažą elektrinę varžą (0,61 cm) ir pasižymi neigiamu
šiluminės varžos koeficientu, būdingu puslaidininkiams.
Fotoliuminescencijos (FL) spektrų matavimai parodė menkas plėvelių
spindulines savybes ir patvirtino prastą ZnO:N plėvelių struktūros
kokybę. Žemos temperatūros fotoliuminescencijos spektrai yra
būdingi ZnO epitaksiniams sluoksniams su dominuojančia D
0X
spektrine linija, tačiau pasižymi santykinai intensyvia A
0X
linija ties 3,314 eV, kuri priskiriama azoto sukurtoms seklioms
akceptorinėms priemaišoms cinko okside.