[PDF]    http://dx.doi.org/10.3952/lithjphys.50303

Open access article / Atviros prieigos straipsnis

Lith. J. Phys. 50, 325–333 (2010)


SYNTHESIS OF ZnO:N THIN FILMS BY REACTIVE DC MAGNETRON SPUTTERING
S. Burinskasa, J. Dudonisa, D. Milčiusa,b, M. Karaliūnasc, and E. Kuokštisc
aDepartment of Physics, Kaunas University of Technology, Studentų 50, LT-51368 Kaunas, Lithuania
E-mail: saulius.burinskas@stud.ktu.lt
bCentre for Hydrogen Energy Technologies, Lithuania Energy Institute, Breslaujos 3, LT-44403 Kaunas, Lithuania
E-mail: milcius@mail.lei.lt
cSemiconductor Physics Department and Institute of Applied Research, Vilnius University, Saulėtekio 9, LT-10222 Vilnius, Lithuania
E-mail: mindaugas.karaliunas@ff.vu.lt

Received 17 March 2010; revised 12 July 2010; accepted 16 September 2010

Structural, electrical, and optical properties of nitrogen doped zinc oxide (ZnO:N) thin films deposited by direct current magnetron sputtering are analysed in this work. Nitrogen doping allows creation of p-type semiconducting ZnO thin films for their most important application as light emitting diodes. The scanning electron microscope images of sample cross-section show dense structure with columnar growth features. The X-ray diffraction patterns indicate semi-amorphous structure, explaining very low photoluminescence intensity. Optical transmittance measurements reveal significant changes in optical properties upon different amount of nitrogen doping. The resistance measurements in 30–90 $^\circ$C temperature range of ZnO:N thin films demonstrate similar to semiconductor behaviour and show resistance change up to 50%.
Keywords: reactive magnetron sputtering, nitrogen doped zinc oxide, p-type ZnO thin films, LED
PACS: 68.55.-a, 73.61.-r, 78.20.-e, 81.15.Cd


ZnO:N PLĖVELIŲ SINTEZĖ REAKTYVIUOJU PASTOVIOS SROVĖS MAGNETRONINIU NUSODINIMU
S. Burinskasa, J. Dudonisa, D. Milčiusa,b, M. Karaliūnasc, E. Kuokštisc
aKauno technologijos universiteto Fizikos katedra, Kaunas, Lietuva
bLietuvos energetikos instituto Vandenilio energijos technologijų centras, Lietuva
cVilniaus universiteto Puslaidininkių fizikos katedra ir Taikomųjų mokslų institutas, Vilnius, Lietuva

Cinko oksidas (ZnO) laikomas viena iš perspektyvių medžiagų, siekiant sukurti pn vienalytės sandūros šviestukus, dėl plataus (3,37 eV) draustinio energijų tarpo, santykinai pigių ZnO padėklų prieinamumo ir epitaksijos žemoje temperatūroje galimybės. Nors n tipo priemaišų įterpimas į ZnO vyksta gana lengvai, iki šiol nerasta patikimo būdo įterpti p tipo priemaišas. Perspektyviausiu akceptoriaus kandidatu beveik vieningai pripažįstamas azotas, kadangi dėl labai panašaus joninio spindulio gali ZnO gardelėje lengvai pakeisti deguonį.
Cinko oksido su azoto priemaiša (ZnO:N) sintezei atlikti gali būti naudojama daugelis metodikų. Dažniausiai literatūroje yra sutinkami metalinis-organinis cheminis nusodinimas iš garų fazės, reaktyvinis garinimas impulsiniu lazeriu, radiodažnio arba nuolatinės srovės magnetroninis nusodinimas. Skirtingų autorių gautų ZnO:N plėvelių savybės gana smarkiai skiriasi, galbūt dėl skirtingų formavimo technologijų bei naudojamų padėklų įvairovės. Patikimos informacijos stoka skatina atlikti papildomus ZnO:N sintezės bei savybių tyrimus.
Šiame darbe ZnO:N plėvelių nusodinimui buvo pasirinktas reaktyvusis nuolatinės srovės magnetroninis metodas, kadangi jis yra gana lengvai įgyvendinamas, pasižymi gana dideliais nusodinimo greičiais ir leidžia plačiame intervale keisti junginio stechiometriją. Pagrindinis tokio metodo panaudojimo sunkumas – sudėtinga reaktyviųjų dujų dalinio slėgio ir tuo pačiu sudaromo junginio stechiometrijos priklausomybė nuo įvairių technologinių parametrų.
Nusodintų plėvelių morfologija buvo ištirta rastriniu elektroniniu mikroskopu FEI Quanta 200F. Kristalinei struktūrai nustatyti buvo panaudotas Rentgeno difraktometras Bruker AXS D8 Advance su monochromatine Cu Kα$_{\alpha} spinduliuote. Elektrinės savybės išmatuotos dviejų zondų metodu. Optinis plėvelių skaidris buvo išmatuotas UV-VIS spektrofotometru Spectronic GENESYS 8. Fotoliuminsecencijos tyrimai buvo atlikti kambario ir 8 K temperatūroje, žadinant nanosekundinio YAG:Nd lazerio 4-os harmonikos spinduliuote.
Tyrimų rezultatai rodo įvykusį azoto įmaišymą į ZnO. Rentgeno spindulių difrakcijos analizė parodė prastos kokybės pusiau amorfinę kristalinę ZnO:N plėvelių struktūrą. Plačios Rentgeno difrakcijos spektrų linijos priskirtinos heksagoninės struktūros ZnO, o bandiniuose su dideliu N2 kiekiu Zn3N2 priskiriamų smailių neaptikta. Optinio skaidrumo matavimai ir draustinio energijos tarpo nustatymas patvirtino draustinio tarpo mažėjimą nuo 3,12 iki 1,56 eV, mažinant deguonies dalinį slėgį auginimo metu nuo 2,2·10−2 iki 1,1·10−2 Pa. Daug N2 turinčios plėvelės yra mažai skaidrios regimai šviesai, turi mažą elektrinę varžą (0,61 cm) ir pasižymi neigiamu šiluminės varžos koeficientu, būdingu puslaidininkiams. Fotoliuminescencijos (FL) spektrų matavimai parodė menkas plėvelių spindulines savybes ir patvirtino prastą ZnO:N plėvelių struktūros kokybę. Žemos temperatūros fotoliuminescencijos spektrai yra būdingi ZnO epitaksiniams sluoksniams su dominuojančia D0X spektrine linija, tačiau pasižymi santykinai intensyvia A0X linija ties 3,314 eV, kuri priskiriama azoto sukurtoms seklioms akceptorinėms priemaišoms cinko okside.


References / Nuorodos


[1] X.B. Wang, C. Song, D.M. Li, K.W. Geng, F. Zeng, and F. Pan, The influence of different doping elements on microstructure, piezoelectric coefficient and resistivity of sputtered ZnO film, Appl. Surf. Sci. 253, 1639–1643 (2006),
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2006.02.059
[2] J.F. Chang, H.H. Kuo, I.C. Leu, and M.H. Hon, The effects of thickness and operation temperature on ZnO:Al thin film CO gas sensor, Sensors Actuators Chem. 84(2–3), 258–264 (2002),
http://dx.doi.org/10.1016/S0925-4005%2802%2900034-5
[3] S. Flickyngerova, K. Shtereva, V. Stenova, D. Hasko, I. Novotny, V. Tvarozek, P. Sutta, and E. Vavrinsky, Structural and optical properties of sputtered ZnO thin films, Appl. Surf. Sci. 254, 3643–3647 (2008),
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.10.105
[4] E. Liu, P. Xiao, J.S. Chen, B.C. Lim, and L. Li, Ni doped ZnO thin films for diluted magnetic semiconductor materials, Curr. Appl. Phys. 8, 408–411 (2008),
http://dx.doi.org/10.1016/j.cap.2007.10.025
[5] D.C. Look, and B. Claflin, P-type doping and devices based on ZnO, Phys. Status Solidi B 241(3), 624–630 (2004),
http://dx.doi.org/10.1002/pssb.200304271
[6] D.C. Look, B. Claflin, Ya.I. Alivov, and S.J. Park, The future of ZnO light emitters, Phys. Status Solidi A 201(10), 2203–2212 (2004),
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200404803
[7] N. Izyumskaya, V. Avrutin, Ü. Özgür, Ya.I. Alivov, and H. Morkoç, Preparation and properties of ZnO and devices, Phys. Status Solidi B 244(5), 1439–1450 (2007),
http://dx.doi.org/10.1002/pssb.200675101
[8] M.D. McCluskey and S.J. Jokela, Defects in ZnO, J. Appl. Phys. 106, 071101 (2009),
http://dx.doi.org/10.1063/1.3216464
[9] J.F. Rommeluère, L. Svob, F. Jomard, J. Mimila-Arroyo, G. Amiri, A. Lusson, V. Sallet, O. Gorochov, P. Galtier, and Y. Marfaing, Nitrogen acceptors in ZnO films grown by metalorganic vapor phase epitaxy, Phys. Status Solidi C 1(4), 904–907 (2004),
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200304251
[10] M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Optical properties of zinc oxynitride thin films, Thin Solid Films 317, 322–325 (1998),
http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090%2897%2900646-9
[11] W. Gao and Z. Li, ZnO thin films produced by magnetron sputtering, Ceram. Int. 30, 1155–1159 (2004),
http://dx.doi.org/10.1016/j.ceramint.2003.12.197
[12] C. Wang, Z. Ji, J. Xi, J. Du, and Z. Ye, Fabrication and characteristics of the low-resistive p-type ZnO thin films by DC reactive magnetron sputtering, Mater. Lett. 60, 912–914 (2006),
http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2005.10.057
[13] M. Kawasaki, A key for realizing p-type ZnO, in: CLEO/Pacific Rim Conference Proceedings: Lasers and Electro-Optics, 464–465 (2005),
http://dx.doi.org/10.1109/CLEOPR.2005.1569476
[14] J.W. Sun, Y.M. Lu, Y.C. Liu, D.Z. Shen, Z.Z. Zhang, B.H. Li, J.Y. Zhang, B. Yao, D.X. Zhao, and X.W. Fan, The activation energy of the nitrogen acceptor in p-type ZnO film grown by plasma-assisted molecular beam epitaxy, Solid State Commun. 140, 345–348 (2006),
http://dx.doi.org/10.1016/j.ssc.2006.09.007
[15] D.C. Look, Electrical and optical properties of p-type ZnO, Semicond. Sci. Technol. 20, S55–S61 (2005),
http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/20/4/007
[16] R.P. Howson, N. Danson, and I. Safi, High rate reactive sputtering using gas pulsing: a technique for the creation of films onto large, flat substrates, Thin Solid Films 351, 32–36 (1999),
http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090%2899%2900081-4
[17] P.J. Kelly and R.D. Arnell, The determination of the current-voltage characteristics of a closed-field unbalanced magnetron sputtering system, Surf. Coatings Technol. 98, 1370–1376 (1998),
http://dx.doi.org/10.1016/S0257-8972%2897%2900260-0
[18] P.J. Kelly and R.D. Arnell, Magnetron sputtering: a review of recent developments and applications, Vacuum 56, 159–172 (2000),
http://dx.doi.org/10.1016/S0042-207X%2899%2900189-X
[19] M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Structural, electrical and optical properties of zinc nitride thin films prepared by reactive rf magnetron sputtering, Thin Solid Films 322, 274–281 (1998),
http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090%2897%2900910-3
[20] Springer Handbook of Electronic and Photonic Materials, eds. S. Kasap and P. Capper (Springer, 2006) pp. 57–62,
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29185-7
[21] A. Ashrafi, Heterointerfaces of stable and metastable ZnO phases, Appl. Surf. Sci. 255, 2342–2346 (2008),
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2008.07.103
[22] T. Sekiguchi, K. Haga, and K. Inaba, ZnO films grown under the oxygen-rich condition, J. Cryst. Growth 214(15), 68–71 (2000),
http://dx.doi.org/10.1016/S0022-0248%2800%2900062-2
[23] T. Yang, Z. Zhang, Y. Li, M.S. Lv, S. Song, Z. Wu, J. Yan, and Sh. Han, Structural and optical properties of zinc nitride films prepared by rf magnetron sputtering, Appl. Surf. Sci. 255, 3544–3547 (2009),
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2008.07.210
[24] X.C. Wang, W.B. Mi, S. Dong, X.M. Chen, and B.H. Yang, Microstructure and optical properties of N-incorporated polycrystalline ZnO films, J. Alloys Compounds 478(1–2), 507–512 (2009),
http://dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2008.11.075
[25] Y. Chen, D. Bagnall, and T. Yao, ZnO as a novel material for the UV region, Mater. Sci. Eng. B 75, 190–198 (2000),
http://dx.doi.org/10.1016/S0921-5107%2800%2900372-X
[26] B.K. Meyer, H. Alves, D.M. Hofmann, W. Kriegseis, D. Forster, F. Bertram, J. Christen, A. Hoffmann, M. Straßburg, M. Dworzak, U. Haboeck, and A.V. Rodina, Bound exciton and donor–acceptor pair recombinations in ZnO, Phys. Status Solidi B 241(2), 231–260 (2004),
http://dx.doi.org/10.1002/pssb.200490002
[27] Ü. Özgür, Ya.I. Alivov, C. Liu, A. Teke, M.A. Reshchikov, S. Doğan, V. Avrutin, S.-J. Cho, and H. Morkoç, A comprehensive review of ZnO materials and devices, J. Appl. Phys. 98, 041301 (2005),
http://dx.doi.org/10.1063/1.1992666